Vabljeni na 5. CEMM delavnico, ki bo v ponedeljek 17.7. ob 9h v Kolarjevi predavalnici. Delavnica je namenjena šolanju novih operaterjev na vrstičnem elektronskem mikroskopu (SEM).
V prvem delu bomo predstavili vakuum in kako smo v zadnjih 100 letih spremenili naš pogled na razumevanje praznine. Obravnavali bomo različna območja nizkega tlaka ter različne vrste črpalk, ki se uporabljajo v elektronski mikroskopiji. Seznanili se boste tudi z vplivi priprave vzorca na vakuum.
Drugi del delavnice je namenjen pripravi vzorcev za vrstično mikroskopijo. Predstavili bomo različne načine priprave, ki so odvisne od vrste analize/opazovanja ter od vrste vzorca. Na primeru neprevodnih ali slabo prevodnih vzorcih se bo razložila razlika med naprševanjem in naparevanjem. Predstavljeni bodo fizikalni mehanizmi rasti tanke plasti in nasveti kako lahko uporabnik doseže čim bolj enakomerno plast.
V tretjem delu bodo predstavljeni sestavni deli in uporaba vrstičnega elektronskega mikroskopa. Pogledali si bomo posamezne dele mikroskopa, razlike med elektronskimi izvori, delovanje elektromagnetnih leč, zaslonke in detektorje za zajem signala.
scanning electron microscope 2-handouts
Vljudno vabljeni,
CEMM