Delavnica je bila namenjena študentom doktorskega študija, podoktorskim raziskovalcem in tudi že izkušenim mikroskopistom. Zajemala je teme kvantitativne vrstičenja elektronske mikroskopije (STEM, BF, ADF, HAADF, ABF), EELS pektroskopijo in energijsko disperzijsko rentgensko spektroskopijo (EDXS).Delavnica je bila razdeljena na tri module: Eksperimentalni in kvantitativni HAADF-STEM Eksperimentalni in kvantitativni core-loss in low-loss EELS Eksperimentalni in kvantitativni EDXS…
Beri dalje »
V začetku leta smo se lotili prenovo prostorov Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo. Spodnje slike prikazujejo končni rezultat.
Z novim letom je bila ustanovljena infrastrukturna enota CEMM znotraj Instituta Jožef Stefana, ki združuje analitsko opremo na področju elektronske mikroskopije in mikroanalize, ki je nujna za izvajanje razvojno-raziskovalnega dela odsekov IJS. Sodelavci CEMM, Janez Zavašnik, Andreja Šestan in Maja Češarek, skrbijo za nemoteno delovanje opreme za EMM in izvajajo vse aktivnosti, ki zagotavljajo delovanje…
Beri dalje »