Slika iz povratno sipanih elektronov vzorca visokoentropijske zlitine CoFeNi po elektrokemijskem jedkanju s H2SO4, na voljo v več povečavah, pridobljena na našem Verios G4 vrstičnem elektronskem mikroskopu. Vzorec je pripravila Barbara Ljubec Božiček.
Slika iz povratno sipanih elektronov peleta stroncijevega heksaferita (SrFe12O19) po sintranju, na voljo v več povečavah, pridobljena na našem Verios G4 vrstičnem elektronskem mikroskopu. Vzorec je sintetiziral Aleksander Učakar.
Za zaključek poletja želimo deliti z vami našo zbirko morskih vzorcev. Vzorci so bili analizirani na Thermo Fisher mikroskopu Verios in Quanti 650. Dagnja Morski ježek Polž Školjka
CEMM razpisuje novo strokovno/raziskovalno delovno mesto na področju vrstične elektronske mikroskopije in novo strokovno/raziskovalno delovno mesto na področju presevne elektronske mikroskopije. Vabljeni k oddaji prijav. Strokovno delo na področju elektronske mikroskopije Center za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo CEMM vabi k sodelovanju nove sodelavce za strokovno/raziskovalna dela, povezana z vzdrževanjem in delom na opremi za elektronsko…
Beri dalje »
V maju 2023 je bila organizirana tretja konferenca “Advanced School on Scanning Transmission Electron Microscopy”, AdSTEM3, v Piranu. Konferenca je bila namenjena doktorskim študentom, podoktorskim raziskovalcem in tudi že izkušenim mikroskopistom saj je pokrivala različne teme 4D STEM načina zajemanja. Vsebovala je vabljena predavanja priznanih profesorjev. Posebna pozornost pa je bila namenjena implementaciji in aplikaciji različnih tehnik, ki izhajajo iz občutljivih detektorjev…
Beri dalje »