Sodelava Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo, odseka za Tehnologijo površin in Optoelektroniko ter Kemijskega instituta. https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/adma.202308027 KATALITSKA CEPITEV VODE ŽE PRI SOBNI TEMPERATURI? Ali smo na pragu novega revolucionarnega odkritja? Sodelavci Odseka za Nanostrukturne raziskave Instituta “Jožef Stefan” so pri študiju mehanizma epitaksialne rasti rutilnih fibrov pod vodstvom prof. Aleksandra Rečnika namreč opazili, da…
Beri dalje »
Slika iz povratno sipanih elektronov vzorca visokoentropijske zlitine CoFeNi po elektrokemijskem jedkanju s H2SO4, na voljo v več povečavah, pridobljena na našem Verios G4 vrstičnem elektronskem mikroskopu. Vzorec je pripravila Barbara Ljubec Božiček.
Slika iz povratno sipanih elektronov peleta stroncijevega heksaferita (SrFe12O19) po sintranju, na voljo v več povečavah, pridobljena na našem Verios G4 vrstičnem elektronskem mikroskopu. Vzorec je sintetiziral Aleksander Učakar.
Za zaključek poletja želimo deliti z vami našo zbirko morskih vzorcev. Vzorci so bili analizirani na Thermo Fisher mikroskopu Verios in Quanti 650. Dagnja Morski ježek Polž Školjka
CEMM razpisuje novo strokovno/raziskovalno delovno mesto na področju vrstične elektronske mikroskopije in novo strokovno/raziskovalno delovno mesto na področju presevne elektronske mikroskopije. Vabljeni k oddaji prijav. Strokovno delo na področju elektronske mikroskopije Center za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo CEMM vabi k sodelovanju nove sodelavce za strokovno/raziskovalna dela, povezana z vzdrževanjem in delom na opremi za elektronsko…
Beri dalje »