… digitalnih področjih, industriji in vesolju, kot tudi v hrani, biogospodarstvu, naravnih virih, kmetijstvu in okolju.

Napredne tehnike elektronske mikroskopije omogočajo celovito strukturno, morfološko in kemijsko karakterizacijo anorganskih materialov. Medtem ko vrstična elektronska mikroskopija (SEM) omogoča tovrstne preiskave na mikronskem nivoju, omogoča presevna elektronska mikroskopija (TEM) preiskave materialov na subatomskem nivoju in omogoča analize kot so na primer preiskave mej med zrni, študijo različnih vključkov, določitev planarnih napak in dislokacij v različnih mineralih in in-situ poizkuse. Uporaba elektronske mikroskopije se širi tudi v preiskave v okolju kot analitska tehnika za strukturno, morfološko in kemijsko karakterizacijo naravnih materialov v okolju in potencialnih anorganskih in organskih onesnažil tako v zemlji kot tudi v vodah in za analize senzorskih materialov za okoljske aplikacije.

Objavljamo prosto delovno mesto v CEMM. Več v priponki. VABLJENI!

Poletno branje o znanosti in malo naokrog.

Preberite zadnjo številko Novic IJS.

https://ijs.si/ijsw/Novice%20IJS (dostop do pdf.)

Na 5. slovenskem posvetovanju mikroskopistov (SDM24), ki je potekalo 16. in 17. maja 2024 na Rogli je potekal natečaj za najboljšo mikroskopistično sliko. Na naslovnici je nagrajena slika na področju znanosti materialov. Gre za kompleksno mikrostrukturno študijo zvara dveh visoko trdnostnih Al zlitin (Al-Cu-Mg in Al-Cu-Mg-Zr). Na sliki je prikazan detajl kristalne strukturne zlitine s paralelnimi defekti posnetim v HAADF tehniki na novem »state of the art« vrstičnem presevnem elektronskem mikroskopu Spectra 300. TEM priprava vzorca in analiza je avtorsko delo Sandre Drev.