Delavnica je bila namenjena študentom doktorskega študija, podoktorskim raziskovalcem in tudi že izkušenim mikroskopistom. Zajemala je teme kvantitativne vrstičenja elektronske mikroskopije (STEM, BF, ADF, HAADF, ABF), EELS pektroskopijo in energijsko disperzijsko rentgensko spektroskopijo (EDXS).Delavnica je bila razdeljena na tri module:
To je bila realizirana s pomočjo vaj na računalnikih. Pristopi, vrednotenja podatkov in izbiro ustreznih programskih oprem so bili opisani za različne primere. Udeleženci so bili vodeni s strani mentorjev in predavateljev le teh vaj. Več informacij je dostopno na spodnji povezavi.
V začetku leta smo se lotili prenovo prostorov Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo.
Spodnje slike prikazujejo končni rezultat.
Z novim letom je bila ustanovljena infrastrukturna enota CEMM znotraj Instituta Jožef Stefana, ki
združuje analitsko opremo na področju elektronske mikroskopije in mikroanalize, ki je nujna za
izvajanje razvojno-raziskovalnega dela odsekov IJS.
Sodelavci CEMM, Janez Zavašnik, Andreja Šestan in Maja Češarek, skrbijo za nemoteno delovanje
opreme za EMM in izvajajo vse aktivnosti, ki zagotavljajo delovanje opreme (dnevni pregledi opreme,
izvajanje potrebnih postopkov za delovanje opreme (npr. bake-out), zalivanje detektorjev s LN2,
kontakti s servisom, obveščanje uporabnikov, nadzor nad rezervacijskim sistemom, evidentiranje
rezervnih delov, naročanje potrošnega materiala, obdelava statističnih podatkov o uporabi opreme,
itd.)
